Zastosowanie

Laboratorium działa w Zakładzie Metrologii Współrzędnościowej w Instytucie Metrologii i Inżynierii Biomedycznej na Wydziale Mechatroniki Politechniki Warszawskiej. Laboratorium prowadzi działalność naukową i dydaktyczną, a także wykonuje pomiary w technice współrzędnościowej zlecone przez firmy zewnętrzne. Działalność usługowa ma na celu nawiązanie kontaktu z przemysłem, poznanie jego potrzeb, rozwinięcie współpracy będącej inspiracją do działań na polu naukowym.

Wyposażone jest w tomograf, współrzędnościowe maszyny pomiarowe, profilometry stykowy i optyczny, urządzenie do pomiaru konturu, przyrząd do wyznaczania odchyłek kształtu, traker laserowy, ramię pomiarowe, maszynę optyczną oraz skaner optyczny.

Nowoczesne wyposażenie pozwala na realizację pomiarów trudnych, o dużym stopniu złożoności i wymagających najwyższych dokładności. Możliwy jest pomiar nie tylko wielu cech geometrycznych: długości, kąty, średnice otwory, walce, stożki, odległości osi, rozmieszczenie przestrzenne elementów, wyznaczanie powierzchni dowolnych, ocenę struktury powierzchni i struktury wewnętrznej, lecz także wiele innych zadań. Można wykonywać pomiary punktowo i skaningowo, stykowo i bezstykowo, dzięki temu uzyskując wysokiej rozdzielczości odwzorowanie powierzchni zewnętrznych, jak też ukrytych powierzchni granicznych w elementach nierozbieralnych.

Rozpiętość wymiarów, które można zmierzyć, zaczyna się od nanometrów (profilometry) i sięga dziesiątek metrów (traker laserowy).

Laboratorium wyposażone jest w certyfikowane wzorce długości i kształtu służące kalibracji maszyn pomiarowych. Współrzędnościowe maszyny pomiarowe posiadają aktualne certyfikaty kalibracji według PN-EN ISO 10360.

http://pomiary.edu.pl/

Wyposażenie laboratorium

  • ACURRA 7

Współrzędnościowa maszyna pomiarowa wyposażona w aktywną, skaningową głowicę pomiarową VAST gold. Maszyna ACCURA umożliwia pomiary stykowe z bardzo wysoką dokładnością.
 
W zakresie pomiarowym 900 x 1200 x 700 mm błąd graniczny dopuszczalny wskazania tej maszyny podczas pomiaru wymiaru wynosi (1,7 + L/300) µm, gdzie L oznacza wartość mierzonego wymiaru w milimetrach.

Accura 7
  • Metrotom 800

Komputerowy tomograf rentgenowski Metrotom 800 firmy Zeiss jest nowoczesnym urządzeniem pomiarowym służącym do kontroli wymiarowej, wykrywania wad materiału oraz inżynierii odwrotnej. Umożliwia on pomiar przedmiotów o skomplikowanym kształcie i posiadających trudno dostępne powierzchnie.
 
Tomograf wyposażony w lampę rentgenowską o napięciu 130kV. Zakres pomiarowy: średnica 125mm, wysokość 150mm (możliwość badania większych elementów w kilku skanach). Maksymalna masa mierzonych przedmiotów 4kg (cięższe elementy – możliwość wykonania pojedynczych radiogramów). Graniczny dopuszczalny błąd pomiarów geometrycznych MPEE=(4,5 +L/100) µm, gdzie L – mierzoną długością w mm. Czas pełnego skanowania elementu ok. 3-4 godzin. 

Pojedynczy pomiar przeprowadza się w dwóch etapach - skanowania i analizy danych. Skanowanie trwa ok. 3 h. Czas obróbki zależy od informacji, jakie mamy uzyskać. W większości przypadków wykonujemy raport w postaci serii przekrojów, z trzech kierunków, z krokiem od 0,001 mm. Przekroje zapisywane w formacie jpg lub bmp. W przypadku standardowego raportu czas pomiaru wraz z raportem wynosi 4 godziny.  

  • Mahr PCV

Przyrząd do pomiaru konturu. Przeznaczany jest do wyznaczania zależności geometrycznych na podstawie z przekroju elementu. Przekrój uzyskiwany jest przez skanowanie powierzchni elementu końcówką uchylnej głowicy. Promień zaokrąglenia końcówki 0,02 mm pozwala na penetrację rowków, podcięć a także odwzorowanie małych promieni, i innych wymiarów zewnętrznych np. narzędzi formujących proszki spiekane czy tworzywa sztuczne. Zakres pomiarowy maszyny Z:50 mm, Y:200 mm, jest wystarczający do wyznaczenia wielu rodzajów wymiarów np. zarysu gwintu, profilu narzędzia formującego itp.

MAHR PCV
  • Form Talysurf PGI 830

Urządzenie Form Talysurf PGI 830, pozwala na wykonanie pomiarów mikro i makrogeometrii powierzchni na długości 200 mm, zakresie pomiarowym w osi Z 8 mm i z rozdzielczością 3.2 nm. Umożliwia wyznaczenie wielu specjalistycznych parametrów chropowatości, falistości i kształtu. Urządzenie pozwala na wyznaczenie innych cech powierzchni np. pomiar objętości nierówności, wizualizację topografii powierzchni i wielu innych.

  • Taylor Hobson Talysurf CCI

Mikroskop interferencyjny Taylor Hobson Talysurf CCI przeznaczony jest do pomiaru mikrogeometrii powierzchni. Oprogramowanie pozwala na obróbkę, analizę i wizualizację danych pomiarowych, umożliwia wyznaczenie szeregu znormalizowanych parametrów chropowatości w przekroju i na powierzchni. Może zostać wykorzystane przy pomiarach mikroobiektów takich jak soczewki, struktury krzemowe i wiele innych.

Mikrointerferometr Taylor Hobson Talysurf CCI pracuje w świetle o szerokim spektrum. Działa na zasadzie skanowania powierzchni, z detekcją pozycji za pomocą prążka zerowego rzędu interferencyjnego. Pomiar wykonywany jest z rozdzielczością w osi Z: 0,01 nm a w osiach X i Y od 0,4 do 0,6 um. Powtarzalność wyznaczenia powierzchni może osiągnąć 0,02 nm. Zastosowano w nim interferometr Mirau.

  • Talyrond 365

Talyrond 365 przeznaczony jest do pomiaru odchyłek kształtu elementów obrotowych. Pozwala na wyznaczenie wielu rodzajów odchyłek takich jak: okrągłość, prostoliniowość, walcowość, współosiowość, płaskość, prostopadłość, równoległość i inne.

Talyrond 365
  • HandyPROBE

Przenośny, optyczny system pomiarowy HandyPROBE służący do pomiarów stykowych, o powtarzalności pomiaru punktu ± 45 µm i dokładności przestrzennej ± 75 µm. Pomiary przy użyciu ramienia pomiarowego oraz systemu HandyPROBE odbywać się mogą zarówno w naszym laboratorium, jak i w innym, dogodnym miejscu.

  • MCA II

Współrzędnościowe ramiona pomiarowe są urządzeniami pomiarowymi pracującymi w technice współrzędnościowej. Podczas zbierania punktów pomiarowych następuje odczyt współrzędnych kątowych z przetworników obrotowych. Następnie za pomocą procedury obliczeniowej współrzędne punktu są transformowane do układu kartezjańskiego. Ramiona pomiarowe są urządzeniami przenośnymi przez co mogą pracować w bezpośrednim otoczeniu produkcji, a także wewnątrz elementów wielkogabarytowych. Wykorzystywane są w przemyśle motoryzacyjnym łącznie z warsztatami prowadzącymi naprawy, w przemyśle lotniczym oraz w zakładach produkcyjnych. Ramię pomiarowe może być również wyposażone w skaner laserowy dzięki czemu możliwy jest pomiar elementów, które na nadają się do pomiarów stykowych, np. materiałów miękkich. Dzięki dużej gęstości punktów zebranych podczas skaningu otrzymywana jest całościowa informacja o mierzonym obiekcie.

Przenośne, siedmioosiowe ramię pomiarowe MCA II o zakresie pomiarowym 2400 mm, powtarzalności pomiaru punktu ± 40 µm i dokładności przestrzennej ± 45 µm, wyposażonego w skaner laserowy MMC80 o niepewności pomiaru 35 µm. Dzięki funkcji „żabiego skoku” ramię pomiarowe umożliwia mierzenie przedmiotów o wymiarach większych niż zakres pomiarowy, a zastosowanie skanera laserowego pozwala na pomiary bezstykowe oraz szybkie zebranie dużej liczby punktów pomiarowych, co ma zastosowanie między innymi w inżynierii odwrotnej. Główne parametry skanera laserowego: szerokość wiązki (Y) 80 mm, maksymalna liczba skanowanych punktów na sekundę 24 000 p/s.

  • SmartScope ZIP Lite 250

Optyczna maszyna pomiarowa SmartScope ZIP Lite 250 o zakresie pomiarowym 250 x 150 x 150 mm i niepewności pomiaru (2,0 + 6L/1000) µm w płaszczyźnie XY i (3,5 + 6L/100) µm w osi Z. Maszyna optyczna umożliwia bezstykowe pomiary 2D oraz, dzięki zastosowaniu stykowej, impulsowej głowicy pomiarowej, stykowe pomiary 3D małych przedmiotów.

  • Leica AT901B

Traker Laserowy Leica AT901B przeznaczony do współrzędnościowych pomiarów wielkogabarytowych w zakresie do ±40 m. Dokładność trakera określona jest parametrami: - MPE dla przemieszczeń liniowych w trybie interferencyjnym ±0,4mm+0,3mm/m - MPR dla przemieszczeń w przestrzeni w trybie dalmierza ± 15 μm + 6 μm/m Urządzenie jest przenośne - umożliwia wykonanie pomiarów w dowolnym miejscu, również na otwartej przestrzeni.

  • Interferometr

W laboratorium dostępne są interferometry handlowe Zeiss ZLM500, zmodernizowany LMS100 oraz systemem Renishaw XL80.

Wyposażenie tych urządzeń pozwala na pomiary: 
- przemieszczeń i pozycji liniowych w zakresie do 20 m z możliwą niepewnością 2 m/m i rozdzielczością 5 nm (dla małych zakresów 2,5 nm), 
- przemieszczeń kątowych w zakresie do 5º i rozdzielczością 1,25*10-7 rad, 
- prędkości liniowych do 6,4 m/s, kątowych 320 rad/s, 
- przyśpieszeń, 
- drgań (częstotliwość amplituda), 
- pomiarów odchyłek prostopadłości i prostoliniowości przemieszczeń

Interferometr